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以MiniTest 4500涂層測(cè)厚儀為例，其非常適合粗糙表面。例如在噴丸表面進(jìn)行測(cè)量時(shí)，讀數(shù)往往高于實(shí)際涂層厚度。這是由于噴丸表面的物理性質(zhì)造成的。在這種情況下，建議使用統(tǒng)計(jì)圖并計(jì)算峰值上的平均厚度，如下所示：

方法A（Rz>20µm）：該方法應(yīng)用于粗糙度等級(jí)至少為20µm（0.8 mils）的表面。

1、首先按照涂層測(cè)厚儀說明書對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)，首先使用未經(jīng)噴丸處理的無涂層樣品。其表面應(yīng)光滑，曲率半徑和基材應(yīng)與后續(xù)測(cè)量對(duì)象相同。

2、再取一個(gè)未涂層但經(jīng)過噴丸處理的樣品（也有與后一個(gè)測(cè)量對(duì)象相同的要求，見第1點(diǎn)），讀取大約10個(gè)讀數(shù)以獲得平均Xo。

3、在此之后，在相同質(zhì)量的涂層噴丸樣品上再讀取約10個(gè)讀數(shù)，以產(chǎn)生平均值Xm。

4、差值（Xm-Xo）±s給出了峰值上涂層厚度（Xeff）的平均值，其中“s”是兩個(gè)值Xm和Xo的較高標(biāo)準(zhǔn)偏差：Xeff=（Xm-Xo）±s

這樣就得到了相對(duì)精確的Xeff涂層厚度。